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U1대학교 도서관
도서명 :
MOS구조에서 Co60-r線 照射에
따른 결함 생성 및 전기적 특성 변화에 관한연구
저 자 :
청구기호 :
P-562.9-유575ㅁ
소장처 :
본교폐가자료실
대출요구사항 :
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