인쇄
U1대학교 도서관
  • 도서명 : MOS구조에서 Co60-r線 照射에
    따른 결함 생성 및 전기적 특성 변화에 관한연구
  • 저 자 :
  • 청구기호 : P-562.9-유575ㅁ
  • 소장처 :본교폐가자료실
  • 대출요구사항 :